温度サイクル試験/熱衝撃試験
目的
半導体デバイス及び電子デバイスが温度変化または温度変化の繰返しを受けた場合の耐性を評価します。
方法
温度サイクル試験槽(気槽)または熱衝撃試験槽(液槽)と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度下で規定の時間
投入します。
(1)温度サイクル試験(気相)
| 試験条件例 : | 温度：-40～125℃、サイクル数：500サイクル(高温,低温各30分) 中間取出し時間：100サイクル／200サイクル |
|---|---|
| 参考規格例 : | ED-4701／100 試験方法105 JESD22-A104E |
| 対応範囲 : | 高温側：+60～300℃、低温側：-70～0℃ 常設条件(2020年11月現在)・-40℃／ 85℃ (各20分) 約30cyc／日・-55℃／125℃ (各20分) 約30cyc／日・-55℃／150℃ (各20分) 約30cyc／日 ・-55℃／175℃ (各20分) 約30cyc／日・-65℃／150℃ (各20分) 約30cyc／日 ・-65℃／150℃ (各30分) 約20cyc／日・-40℃／125℃ (各60分) 約10cyc／日 |
＊試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
(2)熱衝撃試験(液相)
| 試験条件例 : | 温度：-40～125℃、サイクル数：500サイクル(高温,低温各10分) 中間取出し時間：100サイクル／200サイクル |
|---|---|
| 参考規格例 : | ED-4701／300 試験方法307 JESD22-A106B JIS C60068-2-14(Nc) |
| 対応範囲 : | 高温側：+60～150℃、低温側：-65～0℃ |
＊試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
温度サイクル試験槽 (気相)
装置内容積 650W x 460H x 370D mm
熱衝撃試験槽 (液相)
資料カゴ 190W × 140H × 140D mm
