飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験
（プレッシャークッカーテスト）

目的

半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の耐性を加速評価します。

プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で規定の時間投入します。

試験条件例 :

温度：130℃85%、時間：100h、中間取出し時間：25h／50h

参考規格例 :

JESD22-A102D

対応範囲 :

温度：105～143℃、湿度：75～100％、圧力：0.02～0.2MPaまで可能

常設温度(2020年11月現在)

・121℃／100％
・130℃／85％

＊試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。

{ 装置内容積：355W×355H×426D mm }

ＰＣＴ／ＨＡＳＴ槽

電圧：2000V印加可能　パワーデバイスに対応