飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
(プレッシャークッカーテスト)
目的
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の耐性を加速評価します。
方法
プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で規定の時間投入します。
(1)PCT/HAST槽
試験条件例 : | 温度:130℃85%、時間:100h、中間取出し時間:25h/50h |
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参考規格例 : | JESD22-A102D |
対応範囲 : | 温度:105~143℃、湿度:75~100%、圧力:0.02~0.2MPaまで可能常設温度(2020年11月現在)・121℃/100%・130℃/85% |
*試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
{ 装置内容積:355W×355H×426D mm }
PCT/HAST槽
電圧:2000V印加可能 パワーデバイスに対応