1. 事業内容
  2. 信頼性試験
  3. 飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
    (プレッシャークッカーテスト)

飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
(プレッシャークッカーテスト)

目的

半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の耐性を加速評価します。

方法

PCT槽を使用して、規定の温度/湿度及び時間で投入します。
PCT:プレッシャークッカーテストは、武蔵/高崎事業所で多数の装置が稼働しています。
2.5kVの高電圧印加も可能であり、特殊条件に対応することができます。

PCT/HAST槽

試験条件例 : 温度:130℃85%、時間:100h、中間取出し時間:25h/50h
参考規格例 : JESD22-A102D
対応範囲 : 温度:105~143℃、湿度:75~100%、圧力:0.02~0.2MPaまで可能
       
                   PCT試験槽

 

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