パワーサイクル試験
目的
パワーデバイス及びディスクリートデバイスにおいて、ON/OFF動作の繰り返し電気的及び熱的ストレスによる
耐性を評価します。
方法
サンプルサイズ (大型モジュール) 、数量 (77個X3Lot) 、通電条件 (ショート/ロングパワーサイクル条件) 等
について、フレキシブルに対応することができます。
代表的なパワーサイクル試験についてご紹介します。
ショートパワーサイクル試験
| 目的 : | 長時間、ほぼ一定のケース温度下で、ショートタイムで動作を繰り返します。 |
|---|---|
| 試験条件例 : | ご指定電力、ON_100msec/OFF (Tc=25～50℃) 、Δ Tj=100℃ (Tj=25～125℃) |
| 参考規格例 : | JEITJEITA-ED-470/603 AEC-Q101 |
| 対応範囲 : | MOSFET､IGBT､SIC 等のパワーデバイス及びデスクリートデバイス、パワーモジュール |
ロングパワーサイクル試験 (断続通電試験)
| 目的 : | 長時間、ロングタイムで動作を繰り返します。 |
|---|---|
| 試験条件例 : | ご指定電力、ON_1～300sec/OFF (Tc=25～50℃) 、Δ Tj=100℃ (Tj=25～125℃) |
| 参考規格例 : | JEITA-ED-470/603 AEC-Q101 |
| 対応範囲 : | MOSFET､IGBT､SIC 等のパワーデバイス及びデスクリートデバイス、パワーモジュール |
パワーサイクル1号機
パワーサイクル2、3、4、5号機
■パワーデバイス及びデスクリートデバイス (AEC-Q101準拠 IOL試験)
・サンプル実装基板＋通電基板にて、断続通電試験を行います。
・試験条件事例として、ドレイン電流10Ａ以内/個、ON_2min/OFF_2min
Δ Tj=100℃、15000cyc、77pcsＸ3Lot (一斉実施可能)
サンプル基板+ 通電基板機
77個ｘ3ロットに対応
■パワーモジュール (EC-Q101準拠 IOL試験)
・特殊パッケージサイズ/端子形状となるパワーモジュールについては、ヒートシンク、設置治具、
配線類を専用に製作して、断続通電試験を行います。
・試験条件事例として、ドレイン電流400Ａ以内/個、ON_2min/OFF_2min
Δ Tj=100℃、15000cyc、77pcsＸ3Lot (一斉実施可能)
VDS/VGS/TCを常時モニタにより正確な不良品発生時間を確認することができます。
パワーモジュール試験システム