高温保存試験/低温保存試験
目的
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温化もしくは低温化に曝された場合の耐性を評価します。
方法
高温槽、低温槽を使用して、規定の温度及び時間で投入します。
高温保存試験、低温保存試験は、武蔵/高崎事業所で多数の装置が稼働しており、
AEC-Q100、AEC-Q101準拠の各種条件 (77個x3Lot:231個) に対応することができます。
高温保存試験
試験条件例 : | 温度:150℃、時間:1000h、中間取出し時間:96h/240h/500h |
---|---|
参考規格例 : | ED-4701/200 試験方法201、JESD22-A103E |
対応範囲 : | 最高500℃まで可能 |
低温保存試験
試験条件例 : | 温度:-40℃、時間:1000h、中間取出し時間:96h/240h/500h |
---|---|
参考規格例 : | ED-4701/200 試験方法202、JESD22-A119A |
対応範囲 : | 最低ー70℃まで可能 |
高温試験槽
低温試験槽
是非、ご検討を宜しくお願い致します。
ご相談、問合せをお待ちしております。