高温保存試験/低温保存試験

目的

半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温化もしくは低温化に曝された場合の耐性を評価します。

高温槽、低温槽を使用して、規定の温度及び時間で投入します。
高温保存試験、低温保存試験は、武蔵/高崎事業所で多数の装置が稼働しており、
AEC-Q100、AEC-Q101準拠の各種条件 (77個ｘ3Lot：231個) に対応することができます。

　　　　　　　　　　　　　　　高温試験槽　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

　　　　　低温試験槽

是非、ご検討を宜しくお願い致します。

ご相談、問合せをお待ちしております。