定加速度試験

目的

半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。

方法

専用の試験装置を使用して、規定の条件で試験サンプルにストレスを印加します。

(1)定加速度試験