定加速度試験
目的
半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。
方法
専用の試験装置を使用して、規定の条件で試験サンプルにストレスを印加します。
(1)定加速度試験
試験条件例 : | 加速度:20000G 方向X/Y/Z、各方向:1min |
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参考規格例 : | IEC 60068-2-7JIS C60068-2-7ED-4701/400 試験方法405 |
対応範囲 : | 500~30000G サンプル専用冶具が必要 |
遠心定加速度試験機
型番:CA-833N Ⅱ