信頼性基板/治具の設計製作
目的
半導体デバイス及び電子デバイスの長時間、電気的ストレス評価に使用する基板・治具を設計・製作を行います。
方法
動作試験・治具の設計・製作は弊社で行っており、難しい試験動作についても、
経験豊富な専用スタッフがサポートし最適な基板仕様をご提案いたします。
代表的な通電試験基板について紹介します。
代表例:高温連続通電試験
目的 : | 長時間、高温下の動作状態に対する耐性を評価します。 |
---|---|
試験条件例 : | 電圧/電流:規定の動作条件、Ta:125℃ (Tj=175℃) |
参考規格例 : | JEITA |
対応範囲 : | 個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC |
MOSFET 製品TDDB 試験基板 MSIG 製品HOLT 基板
パワーモジュール製品IOL 試験基板 測定用基板治具 (手配線による製作)
是非、ご検討を宜しくお願い致します。
ご相談、問合せをお待ちしております。