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信頼性基板/治具の設計製作

目的

半導体デバイス及び電子デバイスの長時間、電気的ストレス評価に使用する基板・治具を設計・製作を行います。

方法

動作試験・治具の設計・製作は弊社で行っており、難しい試験動作についても、
経験豊富な専用スタッフがサポートし最適な基板仕様をご提案いたします。
代表的な通電試験基板について紹介します。

代表例:高温連続通電試験

目的 : 長時間、高温下の動作状態に対する耐性を評価します。
試験条件例 : 電圧/電流:規定の動作条件、Ta:125℃ (Tj=175℃)
参考規格例 : JEITA
対応範囲 : 個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC

 

     MOSFET 製品TDDB 試験基板             MSIG 製品HOLT 基板

 

   パワーモジュール製品IOL 試験基板          測定用基板治具 (手配線による製作)

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