通電試験
目的
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、電気的及び熱的ストレスを受けた場合の耐性を評価します。
方法
代表的な通電試験についてご紹介します。
(1)高温連続通電試験
| 目的 : | 長時間、高温下での動作状態に対する耐性を評価します。 |
|---|---|
| 試験条件例 : | 電圧／電流：規定の動作条件、Ta：125℃(Tj=175℃) |
| 参考規格例 : | JEITA |
| 対応範囲 : | 個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC |
＊試験サンプルの大きさ、形状によって制限を受けます。
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、電気的及び熱的ストレスを受けた場合の耐性を評価します。
代表的な通電試験についてご紹介します。
| 目的 : | 長時間、高温下での動作状態に対する耐性を評価します。 |
|---|---|
| 試験条件例 : | 電圧／電流：規定の動作条件、Ta：125℃(Tj=175℃) |
| 参考規格例 : | JEITA |
| 対応範囲 : | 個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC |
＊試験サンプルの大きさ、形状によって制限を受けます。
