電気的特性の測定（テスト）

目的

半導体や電子部品の電気的特性を測定します。

テストプログラムやテストボードを作成して、電気的特性を測定します。

目的 :	メモリIC、マイコンIC、ロジックIC、リニアIC、ディスクリート製品、受動部品の電気的特性を測定します。
試験条件例 :	リニアIC(Ope-AMP)のデータシートに基づく電気的特性の測定
対応範囲 :	メモリテスタ：動作スピード=60MHz、ドライバ=576pin、I/O=288pin マイコンテスタ：動作スピード=33MHz、対応ピン数=256pin リニアICテスタ：電圧=±30V、電流=±300mA、対応ピン数=32pin トランジスタテスタ：電圧=1000V、電流=10A、対応ピン数=3pin インピーダンスアナライザ：印加電圧=5mV～1.1V、周波数=5Hz～13MHz 超絶縁抵抗計：測定電圧=1,000V、測定範囲=0.5MΩ～1000MΩ ナノボルト/マイクロオームテスタ：最小測定電圧(抵抗)=1nV(1μΩ)

目的 :

メモリIC、マイコンIC、ロジックIC、リニアIC、ディスクリート製品、受動部品

の電気的特性を測定します。

試験条件例 :

リニアIC(Ope-AMP)のデータシートに基づく電気的特性の測定

対応範囲 :