最大40Vの高感度発熱解析(LIT)装置のELITEにて、 400V対応可能になりました。
パワーデバイス・パワーモジュールの電気的特性検査 評価
最大200mmx160mmのサイズを1視野で発熱解析できます。
半導体品質保証業務で培ってきた技術をお客様に提供致します。
不良箇所の特定から外観の観察・分析など、半導体の不良解析に迅速に対応いたします。