ルネサス エンジニアリングサービス株式会社
高精細TDR導入
テラヘルツ技術を用いた新型TDR解析装置を導入しました。
基板層内オープン異常も検知可能になります。
常設条件試験キャンペーン
信頼性試験(常設試験条件)においてキャンペーンを実施しており、常設試験条件でご依頼頂きますと格安値段で試験が実施出来ます！
4月から新LIT解析受託
従来より受託しております発熱解析(LIT)につきまして、
４月から新型装置でも解析受託を始めます。お問合せ下さい。
半導体デバイス品質保証業務で培ってきた技術をお客様に提供いたします。
不良箇所の特定から外観の観察・分析など、半導体の不良解析に迅速に対応いたします。
最新のニュースリリースとお知らせもっと見る
- 2022年06月06日
- 受託サービスルネサスエンジニアリングサービスでは、オープン箇所の特定に有効なTDRについて、より精度の高い高分解能TDRを導入いたしました。 基板層内でのオープン箇所の特定も可能ですので、ご相談お待ちしております。
- 2021年10月28日
- 受託サービスオンライン立ち会いについてのページを新設しました。弊社では受託サービスについてオンライン立ち会いを実施しております。特に解析については装置モニターを高画質でご確認いただけますので、ご活用ください。
- 2021年10月15日
- 受託サービス真贋調査サービスのページを新設致しました。受託サービスメニュー、またはニュースリリースのリンクからアクセス下さい。
- 2021年10月01日
- お知らせ会社情報のご挨拶と会社概要を更新致しました。