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ルネサス エンジニアリングサービス株式会社

解析受託サービス

不良箇所の特定から外観の観察・分析など、
半導体の不良解析に迅速に対応いたします。

信頼性試験受託サービス

半導体デバイス品質保証業務で
培ってきた技術をお客様に提供いたします。

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受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)の常設条件を更新致しました。
お知らせ11月18日(月)～19日(火) 第39回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2019)に出展いたしました。
受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)の常設条件を更新いたしました。
受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)に常設条件を追加いたしました。
受託サービス信頼性試験受託サービスの技術資料に温度サイクル試験(最大温度300℃)を追加いたしました。
受託サービス信頼性試験受託サービスの技術資料に定加速度試験(実働編)を追加いたしました。
受託サービスXRTの解析受託サービスは終了いたしました。
お知らせ11月19日(月)～20日(火) 第38回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2018)に出展いたします。
お知らせホームページをリニューアルいたしました。
受託サービス解析受託サービス内容を見直しました。（動的状態での位置特定解析サービスを開始）
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