ロット品質問題やスペック不足の電子部品を、温度サイクル試験、テスタ測定、X線観察、外観検査、SAT観察等の、各種選別検査&スクリーニングを行い、梱包状態にしてお客様に納品します。
全面Alパッドのパワー半導体において、絞り込みから断面解析まで一貫してチップ裏面から実施することで、精度の高い解析が可能です。
弊社にて取り扱いしている全ての信頼性試験・解析・真贋調査等を 一冊の総合カタログ(PDF版)に纏めました。 是非、ダウンロードの上ご覧下さい。
半導体品質保証業務で培ってきた技術をお客様に提供致します。
不良箇所の特定から外観の観察・分析など、半導体の不良解析に迅速に対応いたします。