ルネサス エンジニアリングサービス株式会社
半導体要素信頼性評価
EM評価、TDDB評価、N(P)BTI評価、HCI評価の実施により、
半導体デバイスの要素について評価を致します。
高精細TDR導入
テラヘルツ技術を用いた新型TDR解析装置を導入しました。
基板層内オープン異常も検知可能になります。
常設条件試験キャンペーン
信頼性試験(常設試験条件)においてキャンペーンを実施しており、常設試験条件でご依頼頂きますと格安値段で試験が実施出来ます！
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【お知らせ】 信頼性試験(環境試験)は、夏季連休中（2022年8月13日～21日）連続稼働致します。 最近、本試験のご依頼も増えてきておりますので、お早めにご相談ください。 |
不良箇所の特定から外観の観察・分析など、半導体の不良解析に迅速に対応いたします。
最新のニュースリリースとお知らせもっと見る
- 2022年06月06日
- 受託サービスルネサスエンジニアリングサービスでは、オープン箇所の特定に有効なTDRについて、より精度の高い高分解能TDRを導入いたしました。 基板層内でのオープン箇所の特定も可能ですので、ご相談お待ちしております。
- 2021年10月28日
- 受託サービスオンライン立ち会いについてのページを新設しました。弊社では受託サービスについてオンライン立ち会いを実施しております。特に解析については装置モニターを高画質でご確認いただけますので、ご活用ください。
- 2021年10月15日
- 受託サービス真贋調査サービスのページを新設致しました。受託サービスメニュー、またはニュースリリースのリンクからアクセス下さい。
- 2021年10月01日
- お知らせ会社情報のご挨拶と会社概要を更新致しました。