ルネサス エンジニアリングサービス株式会社
解析受託サービス
不良箇所の特定から外観の観察・分析など、
半導体の不良解析に迅速に対応いたします。
信頼性試験受託サービス
半導体デバイス品質保証業務で
培ってきた技術をお客様に提供いたします。
半導体デバイス品質保証業務で培ってきた技術をお客様に提供いたします。
不良箇所の特定から外観の観察・分析など、半導体の不良解析に迅速に対応いたします。
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- 2020年11月30日
- 受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)の常設条件を更新いたしました。
- 2020年01月29日
- 受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)の常設条件を更新いたしました。
- 2019年11月20日
- お知らせ11月18日(月)～19日(火) 第39回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2019)に出展いたしました。
- 2019年10月16日
- 受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)の常設条件を更新いたしました。
- 2019年08月27日
- 受託サービス信頼性試験受託サービスの高温保存試験／低温保存試験／温度サイクル試験／高温高湿試験／飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)に常設条件を追加いたしました。
- 2019年05月16日
- 受託サービス信頼性試験受託サービスの技術資料に温度サイクル試験(最大温度300℃)を追加いたしました。
- 2019年04月16日
- 受託サービス信頼性試験受託サービスの技術資料に定加速度試験(実働編)を追加いたしました。
- 2019年03月05日
- 受託サービスXRTの解析受託サービスは終了いたしました。
- 2018年09月28日
- お知らせ11月19日(月)～20日(火) 第38回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2018)に出展いたします。
- 2018年01月01日
- お知らせホームページをリニューアルいたしました。