ルネサス エンジニアリングサービス株式会社

半導体要素信頼性評価

EM評価、TDDB評価、N(P)BTI評価、HCI評価の実施により、
半導体デバイスの要素について評価を致します。

高精細TDR導入

テラヘルツ技術を用いた新型TDR解析装置を導入しました。
基板層内オープン異常も検知可能になります。

常設条件試験キャンペーン

信頼性試験(常設試験条件)においてキャンペーンを実施しており、常設試験条件でご依頼頂きますと格安値段で試験が実施出来ます!

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