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  2. 信頼性試験
  3. 飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
    (プレッシャークッカーテスト)

飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
(プレッシャークッカーテスト)

目的

半導体や電子部品が長時間、高温高湿下に曝された場合の耐性を加速評価します。

方法

プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で規定の時間投入します。

試験条件例 : 温度=130℃85%RH 時間=100hr 中間取出し時間=25hr/50hr
参考規格例 : JIS,JEITA
対応範囲 : 温度=105~143℃ 湿度=75~100% 圧力=0.02~0.2Mpa

*試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。

{ 装置内容積:355W×355H×426D mm }

PCT/HAST槽

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