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  3. 飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
    (プレッシャークッカーテスト)

飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
(プレッシャークッカーテスト)

目的

半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の耐性を加速評価します。

方法

プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で規定の時間投入します。

(1)PCT/HAST槽

試験条件例 : 温度:130℃85%、時間:100h、中間取出し時間:25h/50h
参考規格例 : JESD22-A102D
対応範囲 : 温度:105~143℃、湿度:75~100%、圧力:0.02~0.2MPaまで可能

常設温度(2020年1月現在)

・121℃/100%
・130℃/85%

*試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。

{ 装置内容積:355W×355H×426D mm }

 

PCT/HAST槽

  • PCT/HAST槽
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