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定加速度試験

目的

半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。

方法

専用の試験装置を使用して、規定の条件で試験サンプルにストレスを印加します。

(1)定加速度試験

試験条件例 : 加速度:20000GG 方向X/Y/Z、各方向:1min
参考規格例 : IEC 60068-2-7
JIS C60068-2-7
ED-4701/400 試験方法405
対応範囲 : 100~30000G サンプル専用冶具が必要
 

遠心定加速度試験機

型番:CA-833N Ⅱ

定加速度

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