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  3. 電気的特性の測定(テスト)

電気的特性の測定(テスト)

目的

半導体や電子部品の電気的特性を測定します。

方法

テストプログラムやテストボードを作成して、電気的特性を測定します。

目的 : メモリIC、マイコンIC、ロジックIC、リニアIC、ディスクリート製品、受動部品

の電気的特性を測定します。

試験条件例 : リニアIC(Ope-AMP)のデータシートに基づく電気的特性の測定
対応範囲 :
  • メモリテスタ:動作スピード=60MHz、ドライバ=576pin、I/O=288pin
  • マイコンテスタ:動作スピード=33MHz、対応ピン数=256pin
  • リニアICテスタ:電圧=±30V、電流=±300mA、対応ピン数=32pin
  • トランジスタテスタ:電圧=1000V、電流=10A、対応ピン数=3pin
  • インピーダンスアナライザ:印加電圧=5mV~1.1V、周波数=5Hz~13MHz
  • 超絶縁抵抗計:測定電圧=1,000V、測定範囲=0.5MΩ~1000MΩ
  • ナノボルト/マイクロオームテスタ:最小測定電圧(抵抗)=1nV(1μΩ)
  • マイコンテスタ

    マイコンテスタ

  • テストボード作成

    テストボード作成

  • テストプログラム作成

    テストプログラム作成

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